美国膜厚测试仪

1898年11月8日，伦琴发现了X射线，从此无损检测技术开始发生了质的变革。它使固体内部的缺陷得以直观地显现出来。X射线是一束光子流。在真空中，它以光速直线传播，本身不带电，故不受电磁场的影响。具有波粒二象性。从物理学中，我们知道，凡具有加速度的带电粒子都会产生电磁辐射。因此当电子在高压电场的作用下，高速运动时，突然撞击到靶面，（会产生很大的负加速度）从而形成了所谓的韧致辐射。简单地说，它是由高速运动的电子撞击靶面而产生的。另一方面，当电子的动能足够大时，将会把靶面原子的内层电子轰击出来，在原位置形成孔穴，而此刻，外层的电子（位于高能级）产生跃迁以填补该孔穴。同时，它将多余的能量以X射线的形式放出，形成所谓的标识X射线。标识射线的波长是不连续的。它取决于靶面的材料。通常用于对材料的化学成分进行定性分析。在无损检测探伤中，一般用前者。
美国膜厚测试仪产品特点：
1. 即放即测！ 通过自动定位功能，放置样品后仅需几秒，便能自动对准观察样品焦点。 10秒钟完成50nm的较薄金镀层测量！ 
2. 以较佳的设计实现微小区域下的高灵敏度，即使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅度地提高膜厚测量的精度。 
3. 无标样测量！ 
4. 将薄膜FP软件进一步扩充，即使没有厚度标准物质也能进行**的测量。也可简单地测量多镀层膜和合金膜样品。 
5. 通过广域观察系统更方便选择测量位置！ 
6. 通过广域观察系统，能够从画面上的样品整体图（较大250×200mm）中方便地*测量位置。