博曼x荧光膜厚测试仪

1898年11月8日，伦琴发现了X射线，从此无损检测技术开始发生了质的变革。它使固体内部的缺陷得以直观地显现出来。X射线是一束光子流。在真空中，它以光速直线传播，本身不带电，故不受电磁场的影响。具有波粒二象性。从物理学中，我们知道，凡具有加速度的带电粒子都会产生电磁辐射。因此当电子在高压电场的作用下，高速运动时，突然撞击到靶面，（会产生很大的负加速度）从而形成了所谓的韧致辐射。简单地说，它是由高速运动的电子撞击靶面而产生的。另一方面，当电子的动能足够大时，将会把靶面原子的内层电子轰击出来，在原位置形成孔穴，而此刻，外层的电子（位于高能级）产生跃迁以填补该孔穴。同时，它将多余的能量以X射线的形式放出，形成所谓的标识X射线。标识射线的波长是不连续的。它取决于靶面的材料。通常用于对材料的化学成分进行定性分析。在无损检测探伤中，一般用前者。
博曼x荧光膜厚测试仪的产品特点：
＊ 兼容Microsoft Windows操作系统之软件。
＊ 可测单层, 多层 1-5层, 合金厚度及比。
＊ 药水分析功能。
＊ 拥有多种准直器可选择性。
＊ **自动定位分析。
＊ 光径对准全自动化。
＊ 自动显示量测参数。
＊ 2D/3D, 任意位置量测控制。
＊ 镭射对焦与自动定位系统。
＊ 温控稳定延长校准时效。
＊ 20X 倍放大摄影系统。
＊ X-ray运作待命睡眠控制。
＊ **美国进口的价格优势以及**服务时效。
＊ 彩色区别量测数据,多重统计显示窗口与报表编辑应用。