膜厚测试仪 博曼BA100

1898年11月8日，伦琴发现了X射线，从此无损检测技术开始发生了质的变革。它使固体内部的缺陷得以直观地显现出来。X射线是一束光子流。在真空中，它以光速直线传播，本身不带电，故不受电磁场的影响。具有波粒二象性。从物理学中，我们知道，凡具有加速度的带电粒子都会产生电磁辐射。因此当电子在高压电场的作用下，高速运动时，突然撞击到靶面，（会产生很大的负加速度）从而形成了所谓的韧致辐射。简单地说，它是由高速运动的电子撞击靶面而产生的。另一方面，当电子的动能足够大时，将会把靶面原子的内层电子轰击出来，在原位置形成孔穴，而此刻，外层的电子（位于高能级）产生跃迁以填补该孔穴。同时，它将多余的能量以X射线的形式放出，形成所谓的标识X射线。标识射线的波长是不连续的。它取决于靶面的材料。通常用于对材料的化学成分进行定性分析。在无损检测探伤中，一般用前者。
膜厚测试仪 博曼（BA100) 
1、无损分析； 
2、从13号元素到92号元素的**元素分析、金属镀层厚度检测； 
3、测镀液中较低含量50g/L的主盐，测定范围Ti22-U92； 
4、检测灵敏度0.01%到**；镀层0.01um到35um； 
5、可全天候工作，坚固**，非实验室人员亦可操作； 
6、测量时间短，每个测量只需10-60秒； 
7、20倍彩色CCD系统用于样品图像观察； 
8、大窗口正比计数器，提高测量稳定性；
9、仪器结构简单，**； 
10、较新FP基本算法；
11、灵活的应用分析软件；