金霖电子供应x-ray膜厚测试仪

金霖电子供应x-ray膜厚测试仪产品副名称：可满足所有度层厚度测量需求的双检测器型镀层厚度测量仪 
1898年11月8日，伦琴发现了X射线，从此无损检测技术开始发生了质的变革。它使固体内部的缺陷得以直观地显现出来。X射线是一束光子流。在真空中，它以光速直线传播，本身不带电，故不受电磁场的影响。具有波粒二象性。从物理学中，我们知道，凡具有加速度的带电粒子都会产生电磁辐射。因此当电子在高压电场的作用下，高速运动时，突然撞击到靶面，（会产生很大的负加速度）从而形成了所谓的韧致辐射。简单地说，它是由高速运动的电子撞击靶面而产生的。另一方面，当电子的动能足够大时，将会把靶面原子的内层电子轰击出来，在原位置形成孔穴，而此刻，外层的电子（位于高能级）产生跃迁以填补该孔穴。同时，它将多余的能量以X射线的形式放出，形成所谓的标识X射线。标识射线的波长是不连续的。它取决于靶面的材料。通常用于对材料的化学成分进行定性分析。在无损检测探伤中，一般用前者。
金霖电子供应x-ray膜厚测试仪主要特点包括：
+ 成本低、**、非破坏的分析。 
+ 可完成至多4层镀层（另加底材）和15个元素的镀层厚度测试，自动修正X射线重叠谱线。 
+ **的多元素辨识，广泛覆盖元素表上从铝（原子序数13号）到铀（92号）各元素，测厚行业20年知识和经验的积淀。
+ 可分析的样品种类繁多，包括固体、液体、粉末、糊状物、薄膜等，检测从ppm级**达百分含量的浓度范围，覆盖元素周期表中从AL13到U92间的元素。
+ 可分析多种样品形状和尺寸：可分析多种样品类型，从微小的电子元件到浴室配件，提供多种硬件供选配，满足各种需要.