X-RAY膜厚测试仪

1898年11月8日，伦琴发现了X射线，从此无损检测技术开始发生了质的变革。它使固体内部的缺陷得以直观地显现出来。X射线是一束光子流。在真空中，它以光速直线传播，本身不带电，故不受电磁场的影响。具有波粒二象性。从物理学中，我们知道，凡具有加速度的带电粒子都会产生电磁辐射。因此当电子在高压电场的作用下，高速运动时，突然撞击到靶面，（会产生很大的负加速度）从而形成了所谓的韧致辐射。简单地说，它是由高速运动的电子撞击靶面而产生的。另一方面，当电子的动能足够大时，将会把靶面原子的内层电子轰击出来，在原位置形成孔穴，而此刻，外层的电子（位于高能级）产生跃迁以填补该孔穴。同时，它将多余的能量以X射线的形式放出，形成所谓的标识X射线。标识射线的波长是不连续的。它取决于靶面的材料。通常用于对材料的化学成分进行定性分析。在无损检测探伤中，一般用前者。
X-RAY膜厚测试仪软件包括 ：
（1）X射线部件的操作 
（2）控制整个测量过程 
（3）先进的基本参数法可进行无标准片测量 
（4）用受认证的标准片进行校准，可以完成有标准片调校的测量 
（5）可以同时分析材料成分和测量计算镀层厚度 
（6）按照元素波峰进行自动元素识别 
（7）测量值可以以karat, wt% 或 ‰表示 
（8）客户自定义报表工具