膜厚测试仪

1898年11月8日，伦琴发现了X射线，从此无损检测技术开始发生了质的变革。它使固体内部的缺陷得以直观地显现出来。X射线是一束光子流。在真空中，它以光速直线传播，本身不带电，故不受电磁场的影响。具有波粒二象性。从物理学中，我们知道，凡具有加速度的带电粒子都会产生电磁辐射。因此当电子在高压电场的作用下，高速运动时，突然撞击到靶面，（会产生很大的负加速度）从而形成了所谓的韧致辐射。简单地说，它是由高速运动的电子撞击靶面而产生的。另一方面，当电子的动能足够大时，将会把靶面原子的内层电子轰击出来，在原位置形成孔穴，而此刻，外层的电子（位于高能级）产生跃迁以填补该孔穴。同时，它将多余的能量以X射线的形式放出，形成所谓的标识X射线。标识射线的波长是不连续的。它取决于靶面的材料。通常用于对材料的化学成分进行定性分析。在无损检测探伤中，一般用前者。
膜厚测试仪整体描述：	
美国BOWMAN X-RAY 设备遵循ASTM B568， DIN 50 987和ISO 3497 等地区和国际标准，主要基於镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。采用全新数学计算方法,采用较新的FP (Fundamental Parameter）强大的电脑功能 来进行镀层厚度的计算，在加强的软体功能之下，简化了测量比较复杂镀层的程式。
（1）、配置硬件革新：
   采用半导体接收器，分辨率较传统**比例接收品提高数倍,较传统X-RAY**度提高了50%以上，   在测试薄金（Au)方面表现更为**。
（2）、**常保固期：2年（24个月），较其它**整机延长一倍；
（3）、*的测量技术：所有产品均为美国**进口，
       **低的售价：相对于其它**同档次的机型售价降低了50%