电镀膜厚测试仪

1898年11月8日，伦琴发现了X射线，从此无损检测技术开始发生了质的变革。它使固体内部的缺陷得以直观地显现出来。X射线是一束光子流。在真空中，它以光速直线传播，本身不带电，故不受电磁场的影响。具有波粒二象性。从物理学中，我们知道，凡具有加速度的带电粒子都会产生电磁辐射。因此当电子在高压电场的作用下，高速运动时，突然撞击到靶面，（会产生很大的负加速度）从而形成了所谓的韧致辐射。简单地说，它是由高速运动的电子撞击靶面而产生的。另一方面，当电子的动能足够大时，将会把靶面原子的内层电子轰击出来，在原位置形成孔穴，而此刻，外层的电子（位于高能级）产生跃迁以填补该孔穴。同时，它将多余的能量以X射线的形式放出，形成所谓的标识X射线。标识射线的波长是不连续的。它取决于靶面的材料。通常用于对材料的化学成分进行定性分析。在无损检测探伤中，一般用前者。
电镀膜厚测试仪软体说明：
*  电脑操作系统 XP系统
*  测量膜厚元素范围：元素周期表13—92号元素间的所有镀层，
   使用FP法充许各元素镀层次序的自由组合测量层层次，较多可以测量四层（加基材较多五层）
*  仪器支持二种镀层厚度计算方法
  （1）、无标准片的FP法（Fundamental Parameter）全新数学计算方法。
     FP法名词解释：即在没有标准块的前提下，一样能**测量，此方式是通过仪器直接读取镀层元能量信息，通过各无素能量信号的强弱或设定的各无素比例参数，以一种数学的方式直接计算镀的厚度。因为它不需要标准块，因此它不受标准块的限制，在没有各种合金镀层标准块的情况下样**的测量各种二元、三元合金镀层）到目前为止，bowman是世界上一可实现此种新型测试技术的膜厚测量**，此技术已使用了17年。
  （2）、支持传统的带标准块的检量线法，即通过镀层标准块建立测试程式档案测量相对应的镀层厚度。